ソフトウェアテスト・第三者検証業務の「VALTES」の新着情報

効率的なテストを実現するためのテスト技法をやさしく解説した ” バルテスミニ冊子
基本の「き」 ”の第４弾を本日リリースいたしました。

今回は、欠陥が埋め込まれやすい条件の境目付近を効率的にテストするための技法として、
「境界値分析」と「同値クラス分割」を紹介しています。

・第４弾 境界値分析と同値クラス分割の基本の「き」

是非下記URLよりダウンロードして、ご活用くださいませ。